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行業(yè)新聞

  • 熱流儀在電子元器件測試中的應(yīng)用有哪些?可以滿足芯片冷熱沖擊測試嗎?

    83

    在電子信息產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展的背景下,電子元器件朝著高集成度、高功率密度的方向不斷演進(jìn),熱流儀作為準(zhǔn)確測量熱傳遞特性的關(guān)鍵設(shè)備之一,在電子元器件測試環(huán)節(jié)中發(fā)揮著重要作用,為電子設(shè)備的可靠運(yùn)行提供支撐。

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  • 接觸式芯片高低溫測試設(shè)備面向芯片封裝可靠性驗(yàn)證

    103

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)體系中,芯片封裝是保障芯片穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其可靠性直接決定了芯片在不同應(yīng)用場景下的使用周期與性能表現(xiàn)。接觸式芯片高低溫測試設(shè)備憑借對(duì)溫度的準(zhǔn)確控制與穩(wěn)定傳遞能力,在芯片封裝可靠性驗(yàn)證中發(fā)揮著重要作用,其通過接觸式傳熱方式,為封裝測...

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  • 高低溫沖擊氣流儀系統(tǒng)滿足半導(dǎo)體行業(yè)苛刻溫度測試需求

    87

    在半導(dǎo)體等高精度行業(yè)的產(chǎn)品測試中,高低溫沖擊氣流儀是評(píng)估元件在苛刻溫度變化下性能穩(wěn)定性的關(guān)鍵設(shè)備。其核心價(jià)值在于通過準(zhǔn)確的氣流控制技術(shù),實(shí)現(xiàn)測試環(huán)境溫度的快速切換,模擬產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中可能遭遇的溫度驟變場景,為產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證提供數(shù)據(jù)支撐

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  • 工業(yè)高精度冰水機(jī)Chiller的選型需要兼顧哪些因素

    98

    在工業(yè)生產(chǎn)中,高精度冰水機(jī)Chiller的選型需基于具體制冷需求,通過對(duì)核心參數(shù)的系統(tǒng)分析,實(shí)現(xiàn)設(shè)備與工況的準(zhǔn)確匹配。從溫度范圍覆蓋到控溫精度保障,從負(fù)載適應(yīng)性到系統(tǒng)兼容性,每一項(xiàng)參數(shù)的設(shè)定都直接影響設(shè)備運(yùn)行效果

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  • MEMS傳感器控溫老化設(shè)備的溫度調(diào)控與長期耐久性測試方法研究

    93

    MEMS 傳感器作為一種微型化的智能器件,廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子、汽車電子、制藥設(shè)備等領(lǐng)域。其微小的結(jié)構(gòu)尺寸和工作原理,使其對(duì)溫度變化要求較高,長期使用中的溫度波動(dòng)可能導(dǎo)致性能漂移甚至功能失效。MEMS傳感器控溫老化設(shè)備通過構(gòu)建準(zhǔn)確的溫度控制環(huán)境,模擬器件在實(shí)...

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  • 定制化半導(dǎo)體老化測試箱體的設(shè)計(jì)理念與存儲(chǔ)芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用解析

    117

    在半導(dǎo)體制造與測試領(lǐng)域,老化測試是確保芯片長期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,測試需求日益多樣化,傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)備已難以滿足不同場景下的準(zhǔn)確需求。因此,定制化半導(dǎo)體老化測試箱體逐漸成為行業(yè)的重要解決方案,其核心在于通過靈活的設(shè)計(jì)適...

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  • 半導(dǎo)體多工位并行老化測試Chamber的在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用

    98

    在半導(dǎo)體行業(yè)的快速發(fā)展中需要產(chǎn)品驗(yàn)證的環(huán)節(jié)。如何準(zhǔn)確地評(píng)估半導(dǎo)體產(chǎn)品在各種苛刻條件下的性能與可靠性,成為制約產(chǎn)品上市速度與質(zhì)量的關(guān)鍵因素。半導(dǎo)體多工位并行老化測試Chamber作為一種創(chuàng)新性的測試設(shè)備,通過多任務(wù)處理能力,實(shí)現(xiàn)了對(duì)多批次、多類型產(chǎn)品的同步...

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