定制化半導(dǎo)體老化測試箱體的設(shè)計(jì)理念與存儲(chǔ)芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用解析

2025年8月8日 121

在半導(dǎo)體制造與測試領(lǐng)域，老化測試是確保芯片長期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展，測試需求日益多樣化，傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)備已難以滿足不同場景下的準(zhǔn)確需求。因此，定制化半導(dǎo)體老化測試箱體逐漸成為行業(yè)的重要解決方案，其核心在于通過靈活的設(shè)計(jì)適...

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