定制化半導體老化測試箱體的設計理念與存儲芯片驗證中的應用解析

2025年8月8日 121

在半導體制造與測試領域，老化測試是確保芯片長期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著半導體技術(shù)的快速發(fā)展，測試需求日益多樣化，傳統(tǒng)的標準化測試設備已難以滿足不同場景下的準確需求。因此，定制化半導體老化測試箱體逐漸成為行業(yè)的重要解決方案，其核心在于通過靈活的設計適...

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