光電器件可靠性老化測(cè)試箱在產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)估中的應(yīng)用

2025年8月14日 93

在光電器件的研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程中，光電器件可靠性老化測(cè)試箱通過(guò)對(duì)溫度等關(guān)鍵參數(shù)的準(zhǔn)確控制，為評(píng)估器件在長(zhǎng)期使用中的穩(wěn)定性提供了重要依據(jù)，進(jìn)而為延長(zhǎng)器件使用周期奠定了基礎(chǔ)

查看全文